材料分析服務

微觀尺寸的材料成份、特性與結構往往主宰著巨觀世界裡的物質特性, 因此在新技術開發階段或是失效分析領域中材料分析皆扮演著重要的地位。精密的分析儀器與豐富經驗的完美搭配才能完成一次成功的材料分析,本實驗室設置有完整的分析設備,包括結構分析的高解析度FE-SEM, TEM...等、成份分析的AES, EDS ...等、熱分析的TMA、單一電晶體電性量測的Nano-probing,再加上實驗室人員的豐富實際經驗與專業知識,如IC Process / Package/ Lead-free/ IMC/ Tin Whisker...等等,必能解決客戶各式各樣的需求。此外,更結合本公司先進的樣品備置技術,如微蝕刻、離子拋光...等,以提供完整與迅速的服務。

我們提供以下服務:
1.Chemical Structure Identification (FTIR, UV-Vis)
2.Elemental Testing (EDS, EDXRF, ICP-OES)
3.Microscopy (optical, SEM, TEM)
4.Chromatography and Separations (HPLC, IC, GC)
5.Mass Spectrometry (GC-MS)
6.Surface Analysis (SIMS, ESCA)
7.Thermal Analysis (TMA)

無機化合物
GAAS,FLAAS,ICP-OES,UV-Vis,IC,EDXRF,Auger,SEM/EDS,TEM
有機化合物
Headspace-GC-MS,GC-ECD/MS,GC-ECD/MS/MS,GC-FID,GC-ECD,GC-AED,GC-FPD,HPLC-DAD,HPLC-FPD,UV-Vis,μ-FTIR/ATR

SEM (掃描式電子顯微鏡)
SEM (掃描式電子顯微鏡)
SIMS (二次離子質譜儀)
SIMS (二次離子質譜儀)
TEM (穿透式電子顯微鏡)
TEM (穿透式電子顯微鏡)
     
Nano prober (奈米級探針量測)
Nano prober (奈米級探針量測)
FTIR (傅氏轉換紅外線光譜儀)
FTIR (傅氏轉換紅外線光譜儀)
TMA (熱機械分析儀)
TMA (熱機械分析儀)
     
AES (歐傑電子能譜儀)
SEM (掃描式電子顯微鏡)
雙束聚焦離子束系統
雙束聚焦離子束系統(Dual-beam FIB system)
 
     

 

總公司:台南市工業二路31號 Tel :+886-6-3841386 Fax:+886-6-3841390
台北分公司:台北市南港區三重路19-13號E棟3樓(316室) Tel :+886-2-77227999 Fax:+886-2-77227979

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