IC故障分析

故障分析(Failure Analysis or FA)所提供的服務項目
提供客戶咨詢與討論
提供客戶做IC元件失效分析,EFA(電性故障分析) ,PFA(物性故障分析)等所需
資源與設備
提供客戶一步到位的分析服務
提供第三者公證報告

可協助解決的故障分析的種類
ESD / Latch up / OLT / Pre-condition /Reliability 等測試後的失效分析服務
驗退樣品分析服務或對產品瑕疵原因之分析服務
C/P , F/T ,PCBA 等流程後之樣品分析服務


聚焦離子束(FIB)
FIB介紹與應用
點針墊偵錯
FIB定位問題
新型FIB電路修正技術
非破壞分析
超音波掃瞄檢測
X射線檢測
BGA錫球焊點檢測
電特性檢測
時域反射儀(TDR)
Keithley 參數分析儀
自動曲線追蹤儀(Auto Curve Tracer)
探針台(Prober)
HP4156 參數分析儀
TLP ESD保護電路電性特性量測
     
故障點偵測
微光顯微鏡(Emmi)
砷化鎵銦微光顯微鏡(InGaAs)
雷射光束電阻異常偵測(OBIRCH)
液晶熱點偵測(LC)
可攜式微光顯微鏡及電子束探測(Portable EMMI)
樣品備製
IC開蓋
IC層次去除
聚焦式離子束顯微鏡(Focused Ion beam, FIB)
傳統式剖面研磨
離子束剖面研磨 (CP)
IC晶背研磨
數位拍照

 

總公司:台南市工業二路31號 Tel :+886-6-3841386 Fax:+886-6-3841390
台北分公司:台北市南港區三重路19-13號E棟3樓(316室) Tel :+886-2-77227999 Fax:+886-2-77227979

©2007 RecycleSources All Rights Reserved.